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波長色散X射線熒光光譜儀

波長色散X射線熒光光譜儀

  • 產品介紹╃▩:波長色散X射線熒光光譜儀S8 TIGER 4K有著高精密度和高準確度的完全元素分析技術↟↟✘│·,和化學價態無關↟↟✘│·,直接的╃•、非破壞性地分析固體╃•、鬆散粉末和液體樣品↟↟✘│·,制樣容易↟↟✘│·,只需幾分鐘↟↟✘│·,操作方法安全↟↟✘│·,無需有害化學試劑↟•。
  • 產品型號╃▩:S8 TIGER 4K
  • 更新時間╃▩:2020-03-24
  • 廠商性質╃▩:經銷商
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產品介紹

 

 波長色散X射線熒光光譜儀

一╃•、簡介

  波長色散X射線熒光光譜儀S8 TIGER 4K有著高精密度和高準確度的完全元素分析技術↟↟✘│·,和化學價態無關↟↟✘│·,直接的╃•、非破壞性地分析固體╃•、鬆散粉末和液體樣品↟↟✘│·,制樣容易↟↟✘│·,只需幾分鐘↟↟✘│·,操作方法安全↟↟✘│·,無需有害化學試劑↟•。其分析效能很好↟↟✘│·,激發電流170mA↟↟✘│·,激發電壓60kV↟↟✘│·,可以4KW滿功率執行↟↟✘│·,輕元素分析效能也很好↟↟✘│·,光路靈活↟↟✘│·,無需壓縮空氣↟↟✘│·,機櫃防塵涉及↟↟✘│·,佔地面積小↟•。

二╃•、特點

1╃•、高透光性的真空封擋

  在測量液體和鬆散粉末樣品時↟↟✘│·,程式控制的真空封檔將樣品室和光譜室分開↟↟✘│·,允許在固體和液體樣品的分析之間快速地切換↟•。由於只有很小的樣品室充氦氣(氮氣)↟↟✘│·,真空封擋顯著地降低氣體消耗量↟↟✘│·,同時探測器的穩定性更高↟↟✘│·,結果的精密度更好↟•。在測量過程中↟↟✘│·,*的真空封擋也可以在液體樣品洩漏或有粉塵樣品時保護光譜室↟↟✘│·,防止被汙染↟•。真空封擋是S8 TIGER的樣品保護TM包的一部分↟•。

2╃•、高精度光學定位測角儀

  採用高精度光學定位測角儀↟↟✘│·,定位精度高↟↟✘│·,測角儀直接到達預設角度↟↟✘│·,快速連續前進↟↟✘│·,無需反覆調整↟↟✘│·,長期執行沒有磨損↟•。角度準確度優於±0.001°↟↟✘│·,角度重現性優於±0.0001°,大掃描速度1200°/分鐘↟↟✘│·,大轉角速度4800°/分鐘↟•。

3╃•、特有的變動理論α係數法

  採用基本引數法單獨地計算每一個樣品的校正係數↟↟✘│·,從而進行全面的整合的基體效應校正↟↟✘│·,這就是變動理論α係數法↟•。其較顯著的優點是╃▩:需要的標樣量少╃•、校正係數更可靠╃•、校準曲線可以適當延伸╃•、操作方便╃•、不需要很多的經驗來選擇影響元素╃•、對於大的材料範圍和很寬的濃度範圍都可以得到可靠的結果↟•。同時相容固定理論α係數法╃•、經驗α係數法基體效應校正↟↟✘│·,三種校正模式也可以混合使用↟•。對於固定理論α係數法╃•、變動理論α係數法╃•、經驗係數法及混合校正方法只需一個使用者介面解決所有問題↟↟✘│·,非常易於使用↟•。

4╃•、特有的未知燒失量校正

  對於燒失量或燒增量很大的樣品↟↟✘│·,通常的做法是將樣品預先灼燒↟↟✘│·,然後根據燒失量進行反算或將燒失量輸入到基體校正公式進行校正↟↟✘│·,分析全鐵的時候還有用鈷做內標的↟•。布魯克未知燒失量校正功能不用測量燒失量↟↟✘│·,軟體會根據其它分析成分估算一個LOI↟↟✘│·,然後經過多次迭代和擬合↟↟✘│·,無需知道燒失量也可以進行準確的燒失量校正↟↟✘│·,大大地提高了分析速度也節約了分析成本↟•。

5╃•、角度偏移校正

  校正價態╃•、礦源差異等引起的峰位位移↟↟✘│·,測量結果更準確↟•。

6╃•、幾何校正

  透過直徑–厚度–密度╃•、直徑–厚度–質量或直徑–質量–密度三種樣品製備選項對未達到X射線穿透飽和深度的樣品進行幾何校正↟↟✘│·,從而得到更準確的測量結果↟•。

7╃•、制樣校正軟體

  對用熔融制樣或粉末樣需加粘合劑的制樣方法↟↟✘│·,採用任意配比╃•、隨意稱量╃•、準確輸入的方法↟↟✘│·,稱樣誤差小↟↟✘│·,稱樣速度快↟↟✘│·,不同的制樣方法可以共用同一工作曲線↟•。

8╃•、P10氣體密度穩定器

  在P10氣體鋼瓶與流氣正比計數器之間安裝有氣體密度穩定器↟↟✘│·,使探測器裡的氣體密度始終保持恆定↟↟✘│·,保證測量結果精密度更高↟•。流氣計數器採用數字式壓力控制↟↟✘│·,控制更精密↟•。

9╃•、高穩定性的光譜室

  光譜室溫度穩定性優於±0.05℃↟↟✘│·,避免了溫度變化引起分光晶體的面間距變化↟↟✘│·,從而引起被測量元素光子衍射角度的變化↟•。

10╃•、採用真空度控制測量

  對於固體樣品↟↟✘│·,採用真空度控制測量↟↟✘│·,只有達到預設的真空度才開始測量↟↟✘│·,避免了吸潮樣品在測試階段真空度的不*引起強度計數的差異↟•。

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